在數(shù)據(jù)機(jī)房中，傳統(tǒng)的OLTS光纖一級(jí)測(cè)試已經(jīng)不能滿足高速高密度的光線鏈路需要了，因?yàn)橐患?jí)測(cè)試只能測(cè)試鏈路的長(zhǎng)度，總體損耗。而對(duì)于對(duì)光纖鏈路傳輸影響較大的連接器，熔接點(diǎn)等事件并不能做出深入的，有效的判斷，形成測(cè)試的盲區(qū)。
舉個(gè)簡(jiǎn)單例子，光纖鏈路其中一個(gè)連接器超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)，但是光纖鏈路的整體損耗在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，那么在一級(jí)測(cè)試中，這條鏈路是合格的，但是由于超標(biāo)的連接器存在，在數(shù)據(jù)傳輸中，仍然會(huì)造成誤碼率升高的現(xiàn)象。這個(gè)超標(biāo)的連接器，就是一級(jí)測(cè)試的盲區(qū)。
光纖的OTDR測(cè)試則可以消除這個(gè)盲區(qū)。光纖的OTDR測(cè)試(Optical Time Domain Reflectometer)，在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T50312-2016中屬于可選測(cè)試，但是在所有的高速鏈路上都有做這個(gè)測(cè)試的必要。OTDR可以提供測(cè)試整條光纖鏈路的刪減，并可以提供基于長(zhǎng)度的衰減細(xì)節(jié)和基于事件的光纖故障原因，可以用于檢測(cè)，定位和測(cè)量光纖鏈路上的任何位置的事件，這些事件包括但是不限于熔接點(diǎn)，連接器，宏彎等。
OTDR測(cè)試之所以可以做到光纖鏈路的細(xì)致分析，是使用了兩種基本原理，瑞利散射和菲涅爾反射。瑞利散射定義為光傳輸時(shí)遇到光纖本身的缺陷和摻雜成分的變化，光脈沖會(huì)發(fā)生瑞利散射。一部分光(大約有0.0001%)沿脈沖相反的方向被散射回來(lái)，因而被稱為瑞利逆向散射，后向散射光提供了與長(zhǎng)度有關(guān)的衰減細(xì)節(jié)。
菲涅爾反射則定義為在不同折射率的兩種傳輸介質(zhì)的邊界處(如連接器、機(jī)械接續(xù)、斷裂或光纖終結(jié)處)會(huì)發(fā)生菲涅爾反射，此現(xiàn)象被OTDR用于準(zhǔn)確確定沿光纖長(zhǎng)度上不連續(xù)點(diǎn)的位置。反射的大小依賴于邊界表面的平整度及折射率差，由于連接器屬于對(duì)位連接，本身在連接時(shí)存在比較大的折射率差，因而在OTDR追蹤圖中會(huì)顯示為非常大的突變。
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