熔接接頭的故障診斷和排除
熔接是指利用電弧將兩根光纖熔接在一起，通常用于連接250微米外部設(shè)備光纖和建筑物外接口處的900微米內(nèi)部設(shè)備光纖，利用精密切割機(jī)正確切割光纖后，再通過(guò)熔接機(jī)實(shí)現(xiàn)熔接。對(duì)于單根光纖或12芯光纖帶狀電纜的熔接，可以通過(guò)多路熔接來(lái)完成，一次熔接所有12根光纖。
熔接具有低損耗和極小反射率，被認(rèn)為是連接兩根光纖的非常強(qiáng)且可靠的方法。只要正確進(jìn)行，熔接接頭的損耗可低于0.1dB。接下來(lái)讓我們仔細(xì)研究一下這些高性能連接點(diǎn)的定位和故障診斷方面的注意事項(xiàng)。

我無(wú)法找到接頭

使用福祿克OptiFiber™ Pro OTDR光纖測(cè)試儀時(shí)，質(zhì)量過(guò)硬的接頭損耗低且沒(méi)有連接器的反射，可能不會(huì)被顯示出來(lái)。但如果您想要定位一個(gè)熔接接頭，盡管該接頭沒(méi)有質(zhì)量問(wèn)題，又該如何操做呢？
只需利用手動(dòng)OTDR選項(xiàng)對(duì)設(shè)置進(jìn)行一些簡(jiǎn)單調(diào)整即可，這很容易。首先，您需要在福祿克OptiFiber Pro光纖測(cè)試儀上設(shè)置損耗門(mén)限，以定位損耗低于0.1dB的事件。OptiFiber Pro自動(dòng)設(shè)置的損耗門(mén)限為0.15dB，這意味著只會(huì)發(fā)現(xiàn)等于或高于該水平的事件。但是，損耗門(mén)限可以由用戶(hù)定義，取值范圍從0.01至1.50dB。
請(qǐng)注意，較小門(mén)限意味著測(cè)試儀需要進(jìn)行更多測(cè)量或使用更寬脈寬，這可能會(huì)增加測(cè)試時(shí)間或跡線(xiàn)上的死區(qū)。低于0.15dB的損耗門(mén)限也可能導(dǎo)致OTDR發(fā)現(xiàn)由于光纖固有缺陷導(dǎo)致的錯(cuò)誤事件。
更改平均時(shí)間也有助于定位熔接接頭。“平均時(shí)間”設(shè)置了測(cè)量平均次數(shù)以創(chuàng)建軌跡——較長(zhǎng)時(shí)間可減少噪音，從而揭示更多細(xì)節(jié)，如非反射性接頭事件。

識(shí)別問(wèn)題 解決問(wèn)題
利用高質(zhì)量的切割和熔接機(jī)，很容易實(shí)現(xiàn)正確熔接。但是，如果接頭和膨脹部分沒(méi)有沿著熔纖盤(pán)的導(dǎo)線(xiàn)板正確地放置在熔纖盤(pán)內(nèi)，則可能會(huì)導(dǎo)致超出光纖的彎曲半徑。
如要定位這種類(lèi)型的應(yīng)力，您可能需要測(cè)試兩種波長(zhǎng)：多模為850和1300nm；單模為1310和1550。在較長(zhǎng)波長(zhǎng)下，受應(yīng)力的光纖將顯示出明顯較高的損耗，而通常較長(zhǎng)波長(zhǎng)會(huì)顯示較低損耗。您可能還需要利用VFL來(lái)確定問(wèn)題是否出現(xiàn)在破裂或扭曲的光纖，而不是尾纖連接器，因?yàn)檐壽E上的事件通常會(huì)出現(xiàn)在連接器附近。
雙向測(cè)試也很重要。如果尾纖與其正在熔接的光纖之間存在反向散射不匹配，則將在一個(gè)方向上看起來(lái)像增益(即負(fù)損耗)，在另一個(gè)方向上有過(guò)多損耗(即虛假損耗)。如果從兩個(gè)方向進(jìn)行測(cè)試，并對(duì)損耗進(jìn)行平均，則可獲得實(shí)際損耗。
為了簡(jiǎn)化雙向測(cè)試，福祿克OptiFiber® Pro光纖測(cè)試儀內(nèi)置了一個(gè)“SmartLoop OTDR”助手，在雙芯光纖鏈路的遠(yuǎn)端使用一個(gè)環(huán)路，這樣您就可從一端進(jìn)行雙向測(cè)試。OptiFiber® Pro還內(nèi)置有平均功能，可將兩個(gè)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行平均，從而提供準(zhǔn)確的損耗測(cè)量值。

------------------------------------------------------------------------------------------