測(cè)試原理就是光源在時(shí)間To向被測(cè)鏈路中注入功率為Po的光信號(hào)，然后光信號(hào)經(jīng)過(guò)被測(cè)鏈路后從另一端射出進(jìn)入光功率計(jì)，光功率計(jì)記錄接收到光信號(hào)的時(shí)間為T(mén)i，光信號(hào)的功率為Pi

那么鏈路損耗就等于功率Po減去功率Pi，單位經(jīng)過(guò)對(duì)數(shù)計(jì)算，單位為dB。

發(fā)射端信號(hào)的功率一定是大于信號(hào)接收端的功率的，因?yàn)殒溌分幸欢〞?huì)存在衰減。如果我們?cè)趦x表中看到了負(fù)損耗，那么就意味著一定是測(cè)試出現(xiàn)了問(wèn)題，需要清潔光纖端面，重新設(shè)置基準(zhǔn)等方法來(lái)解決這個(gè)問(wèn)題。

長(zhǎng)度的計(jì)算是由To和Ti兩個(gè)時(shí)間差，也就是光信號(hào)通過(guò)被測(cè)鏈路的時(shí)間乘以光纖傳播常數(shù)貝塔，再乘以光在真空中的傳播速度C得出這個(gè)長(zhǎng)度結(jié)果。

在實(shí)際測(cè)試過(guò)程中需要在測(cè)試前要做一個(gè)歸零的操作。因?yàn)樵O(shè)備的電子元器件隨著氣溫，時(shí)間等因素會(huì)發(fā)生細(xì)微的變化，而這種變化也會(huì)反應(yīng)在測(cè)試結(jié)果中，對(duì)光纖網(wǎng)絡(luò)的質(zhì)量判定就會(huì)產(chǎn)生偏差。還有就是在實(shí)際測(cè)試中，由于不同的鏈路模型和減少設(shè)備端口的磨損，會(huì)使用測(cè)試跳線，測(cè)試跳線也會(huì)有一定長(zhǎng)度和損耗。所以我們需要把這些因素都要從測(cè)試結(jié)果中扣除。

類似于菜市場(chǎng)上的水果秤，我們要先把秤盤(pán)的重量扣除出去，在進(jìn)行稱重才是我們要買(mǎi)的水果重量。如果不扣除秤盤(pán)重量，那么得出來(lái)的重量就是秤盤(pán)加水果，那么肯定是不對(duì)的。

福祿克OLTS測(cè)試設(shè)備還具備三種測(cè)試模式，以適用于不同的應(yīng)用場(chǎng)景。

第一種是智能遠(yuǎn)端模式，適用于數(shù)據(jù)機(jī)房等雙芯布線系統(tǒng)，就是數(shù)據(jù)發(fā)和收在不同的光纖實(shí)現(xiàn)的光纖網(wǎng)絡(luò)。不管是單模光纖還是多模光纖，都有兩個(gè)使用的典型波長(zhǎng)，單模光纖是1310nm和1550nm，多模光纖是850nm和1300nm。OLTS測(cè)試測(cè)試設(shè)備可以在一次測(cè)試中對(duì)光纖鏈路進(jìn)行收發(fā)兩芯，各自兩個(gè)方向，兩個(gè)波長(zhǎng)給出測(cè)試結(jié)果，并且這些結(jié)果都保存在一個(gè)測(cè)試報(bào)告中。

第二種是環(huán)回模式，只用單臺(tái)主機(jī)就可以完成測(cè)試，測(cè)試信號(hào)從主機(jī)的發(fā)射接口發(fā)出，在主機(jī)的光功率計(jì)接收。這種測(cè)試模式適用于成軸的光纖質(zhì)量判定等場(chǎng)景

第三種是遠(yuǎn)端光源模式，測(cè)試信號(hào)從遠(yuǎn)端設(shè)備的發(fā)射接口發(fā)出，到主機(jī)的光功率計(jì)接收。這種測(cè)試模式適用于單芯光纖布線系統(tǒng)，就是信號(hào)的收發(fā)都在一根光纖中完成的，比較常見(jiàn)的就是小區(qū)光纖入戶工程。

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